导图社区 原子吸收光谱（AAS）
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- 大纲
原子吸收光谱分析（AAS）
基本理论
基态原子数和总原子数的关系
Boltzmann分配定律
原子谱线轮廓
吸收定律
谱线宽带因素
自然变宽△VN/△λN
Doppler变宽△VD/△λD
λ、M、T
压变宽（碰撞变宽）
Lorentz变宽△λL
Holtzmark变宽（共振变宽）△λR
场致变宽（非主要原因）
自吸与自蚀
I↑，↑
积分吸收
峰值吸收
A＝KCL
锐线光源
调制
AAS仪器
光源
空心阴极灯
原子化器
作用
将待测组分转化气态基态原子
分类
火焰原子化器
组成：雾化室、雾化器、燃烧器、供气系统
火焰（空气-乙炔）
石墨炉原子化器
电源：产生高温
石墨管：受热均匀
保护系统
保护气
管外气：防空气进入、氧化
管内气：排空气，加热样品产生的蒸汽
冷却水：保护炉体
原子化过程：干燥、灰化、原子化、除残
斜坡升温
低温原子化法
分光系统
组件：色散元件（棱镜、光栅），凹凸镜，狭缝等
单色器性能参数
线色散率
分辨率
通带宽度
W＝D×S
检测器
光电倍增管→测定的吸收度信号
干扰及其抑制
物理干扰（基体效应）
因素
试液粘度、溶剂蒸汽压、雾化气体压力、表面张力
消除
①避免使用粘度大的液体处理试；试液浓度较大，适当稀释②据试液配置标准液，且在相同条件下测定；试液组成不祥，用标准加入法
化学干扰（主要）
产生
待测元素与共存元素生成更稳定化合物→基态原子数↓
消除
加释放剂
加保护剂
加基体改进剂（原子化前）
化学分离
电离干扰
产生
高温→基态原子数↓，A↓（火焰温度越高，电离电位越低）
消除
↓火焰温度，加消电离剂
谱线干扰
谱线干扰
↓狭缝宽度，提高分辨率
吸收线重叠
另选分析线测定，预先分离干扰元素
原子化器内直流发射干扰
调制光源，采用脉冲供电
背景干扰
产生：分子吸收，光散射
消除：氘灯扣背景，塞曼效应扣背景
定量分析方法
方法
标准曲线法
适于共存组分互不干扰的试样
标准加入法
可消除基态干扰，但不能消除分子吸收，背景吸收影响
适于试样基体组成复杂且有干扰
灵敏度
相对灵敏度
特征浓度
绝对灵敏度
特征质量
检出限
相对检出限
绝对检出限
原子荧光光谱
基本原理
光致二次发光
荧光类型
共振荧光
λ发射荧光＝λ激发荧光
非共振荧光
阶跃荧光
直跃荧光
反斯托克斯荧光
敏化荧光
定量原理
荧光强度
（无自吸）