产品漏光

这是一篇关于产品漏光的思维导图，主要内容包括：940nm透过率，产品一致性，三端电容，TX端器件底部，组件(H/IR)。

产品漏光

• 组件(H/IR)
  • TX与RX中间 挡墙开口、位置
    • 3.4mm（C20T05）
      • VCSEL与SUB区域中心双边外扩1.6mm，开口有倒角
    • 1.20mm (C20T05-A)
      • CSEL与SUB区域右上角对齐，开口无倒角
    • 0.70mm (C30T14)
      • VCSEL与SUB区域右上角对齐，开口有倒角
    • 使用胶水堵死 (C30T14)
    • 0.25mm (C30T14-A)
      • VCSEL与SUB区域右上角上移0.5mm，开口无倒角
  • 芯片与HD间隙:80um
    • 80-140um （C20T05）
    • 50-120um (C20T05-A)
    • 50-110um（C30T14/-A）
  • 逃气孔位置数量
    • 1个，位于TX右上角（C20T05/-A）
    • 2个，位于TX右下角，RX偏右中间（C30T14/-A）
  • IR镀膜参数
    • T50% CWL SHIFT≤11nm
• TX端器件底部
  • 新旭底部白料
    • Mian区域最大数据的均值 201
  • Hoya底部器件
    • 数据采集最大均值355，比原始Newmax 2P准直上升1.76%
  • 新旭底部涂黑
    • 数据采集最大均值141，比未涂黑的物料数据下降1.45%
• 三端电容
  • 开口中间（C20T05）
    • 使更多VCSEL光源到Mian区域使整体数据采集偏高对模组标定严重
  • 远离开口（C20T05-A）
    • 器件避开开口位置，器件反射降低使Main区域数据明显下降80%
  • 开口上方（C30T14/-A）
    • 器件在开口附近因光线反射导致Mian区域数据上升30%
• 产品一致性
  • 设备作业
    • 设备作业采集数据一致性趋势稳定
  • 手组验证
    • 验证采集数据趋势比机台好，一致性趋势差，原因胶水过剩
• 940nm透过率
  • 胶水
    • 9530B------0.4%
      • 子主题
    • 9691B------39%
    • EP3617-----0%
    • SE8262-1--2.5%
    • 2286-------3.1%
  • HD材质
    • NTB_982G3-----0.208
    • NTB-935-----0.003
    • LCP_E525T---0.008