导图社区 常见离散型分布的联系
这是一篇关于常见离散型分布的联系的思维导图,介绍了离散均匀分布、两点分布、二项分布、多点分布、多项分布等。
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常见离散型分布
离散均匀分布
X~U(m)
等可能性取1,...,m中的任何一个值
等概率:取每个值的概率是相同的
两点分布
X~b(1,theta)
仅试验1次,试验结果为成功或失败
试验次数不同
二项分布
X~b(n,theta)
试验n次,每一次试验结果为成功或失败
可看做独立同分布的两点分布X1,X2,..Xn之和
多点分布
X=(X1,X2,...,XK)^T~MN(1,Pi)
假设有k个事件A1,A2,...,Ak为样本空间的一个划分,k个事件两两互不相容
当k=2时,X为两点分布
多项分布
X=(X1,X2,...,XK)^T~MN(n,Pi)
当k=2时,X为二项分布b(n,pi1)
当n=1时,X为多点分布MN(1,pi)
多项分布可表示为独立同分布的多点分布之和
超几何分布
X~HG(n,N,M)
X表示次品的个数(N件产品,有M个次品,不放回抽取n件产品)
若n/N很小,则P(x=i)=b(i|n,M/N),退化为二项分布
Poission分布
X~P(lambda),X取整数,常见于流问题
可加性
负二项分布
X~NB(r,theta)
X表示r次成功所经历失败的次数
X=Y-r服从负二项分布,Y~PA(r,theta)
当r=1时,X表示1次成功所经历失败的次数,故X+1~G(theta)
Pascal分布
X~PA(r,theta)
X表示取得r次成功所需试验次数
几何分布
X~G(theta)
X表示首次成功所需试验次数
无记忆性
成功需要的试验次数,二者的不同在于计算第几次成功