射线无损检测检测

射线无损学习和工艺计算，介绍了物理基础、胶片、照相质量、透照工艺、透照方式的知识，有兴趣的可以看看哟。

X射线检测

• 物理基础
  • 射线的产生
    • 原子核结构
      • 核力(结合)≈100库仑力(质子间)
    • X射线
      • 连续谱
        • 韧致辐射
      • 标识谱
        • 靶材料Vk
    • γ射线
  • 射线与物质作用
    • 光电效应(光子被吸收)：hν↑概率↓，Z↑概率↑
    • 电子对效应(光子被吸收)
    • 康普顿效应(散射线)，概率∝Z，∝(1/hν)，降低对比度照相质量差，所以不用1MeV左右能量照相
  • 射线衰减(变)
    • 半价层
    • 半衰期
  • 射线照相法
    • 散射比
• 胶片
  • 感光原理
  • 底片黑度
  • 胶片特性
    • 感光度S=1/Ks
    • 灰雾度Do
    • 梯度G
    • 宽容度L
    • 最大密度Dmax
  • 增感屏
    • 增感：荧光＞金属荧光＞金属
    • 吸收：金属＞金属荧光＞荧光
• 照相质量
  • 对比度
    • 主因对比度
    • 胶片对比度
      • 胶片类型
      • 显影条件
      • 底片黑度D
        • D↑，G↑
  • 不清晰度
    • 几何不清晰度
    • 固有不清晰度
      • 射线的质μ
        • 能量↓μ↑
      • 增感屏种类
      • 屏片贴紧程度
  • 颗粒度σD
• 透照工艺
  • 射线源和能量选择
  • 焦距
  • 曝光量修正
    • 互易律E=it
    • 平方反比定律
    • 曝光因子
• 透照方式
  • Do≤100
    • T≤8且g≤Do/4
    • T＞8或g＞Do/4
  • 100＜Do≤400，K≤1.2