导图社区 一张图看懂SPC
这里面包括了休哈特常规控制图、过程能力、特殊类型控制图、计量型、计数型、过程能力指数（Cp、Cpk）等。
这是一篇关于AIAG VDA PFMEA的思维导图，包含结构分析、 功能分析、 失效分析、 分析评估、 改进措施等。
这是一篇关于新供应商审核评估文件的思维导图，包含质量体系、 设计开发、 采购管理、 现场管理、 质量保证、 仓库管理等。
样件零件制造中，对所有尺寸测量，物料以及功能测试的书面描述；在DFMEA中，帮助建立早期识别出潜在特殊特性的初始过程能力。
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一张图看懂SPC
休哈特常规控制图
过程能力
特殊类型控制图
预控制图
使用条件：设备能力指数：Cmk≥1.67（适用于相同公差的不同产品在同一张控制图上）
使用方法：以平均值±1/4T区间为绿色区间，平均值±1/4T至±1/2T为黄色区间，平均值±1/2T以外的区间为红色区间
判异原则
开始检查5个零件，如果都在绿色区域则继续运行；如果1个点在黄色，则需要再检查5个零件，直至在绿色区域
检查2个零件，如果在绿色区域则继续运行；如果1个或2个在红色区域停止过程，采取纠正措施，完成纠正措施后继续检查2个
如果1个或2个在黄色区域，再检查3个以上零件，如果任何零件落在红色区域，停止过程，采取纠正措施，完成纠正措施后继续检查2个
如果1个或2个在黄色区域，再检查3个以上零件，如果有3个或以上零件落在黄色区域（来自5个零件），停止过程，采取纠正措施，完成纠正措施后继续检查2个
彩虹控制图
使用条件：设备能力指数：Cmk≥1.67
使用方法：以平均值±1.5σ区间为绿色区间，平均值±1.5σ至±3σ为黄色区间，平均值±3σ以外的区间为红色区间
标准化控制图
计量型（Z-MR控制图）
使用条件：小批量多料号，不同规格的产品放一张控制图上（每一规格产品至少要取样8组或以上）
使用方法：依据以往历史经验数据的Xbar（平均值）和σ（标准值），计算出Z值（西格玛水平）和MR(Z值的移动极差)
分析用控制图判异原则
连续15个点排列在中心线1个标准差范围内（任一侧）
连续9个点位于中心线一侧
一个点远离中心线超过3个标准差
控制用控制图（Z图）判异原则
连续6个点上升或下降
连续14个点交替上下变化
2/3的点距中心线距离超过2个标准差（同一侧）
4/5的点距中心线距离超过1个标准差（同一侧）
连续8个点距中心线距离超过1个标准差（仁一侧）
控制用控制图（MR图）判异原则
计数型Z控制图
使用方法：依据以往历史经验数据的Pbar（平均不良率），计算出Z值（西格玛水平）
过程性能指数(Pp、Ppk)
双边公差Pp=（USL-LSL）/6s，Ppk=min{(USL-Xbar）/3s，（Xbar-LSL）/3s}，s=SQRT{Σ（Xi-Xbar）∧2/（n-1）}
单边公差：Pp：无，Ppk=(USL-Xbar）/3s或（Xbar-LSL）/3s，s=SQRT{Σ（Xi-Xbar）∧2/（n-1）
使用条件：MSA满足要求，数据独立，采取整体数据进行变异的估计
过程能力指数（Cp、Cpk）
双边公差：Cp=（USL-LSL）/6σ，Cpk=min{(USL-Xbar）/3σ，（Xbar-LSL）/3σ}，σ=Rbar/d2
单边公差：Cp：无，Cpk=(USL-Xbar）/3σ或（Xbar-LSL）/3σ}，σ=Rbar/d2
使用条件：MSA满足要求，数据独立，过程稳定，数据正态，采取分组数据进行变异的估计
计数型
P控制图（不良率控制图）
使用条件：平均不良数量NP≥5，送检数量的Min/Max≥75%
NP控制图（不良数控制图）
使用条件：送检数量恒定，平均不良数量NP≥5
C控制图（缺陷数控制图）
使用条件：送检数量恒定，送检数量必须足够大，C=0的子组数量要很小
U控制图（单位缺陷数控制图）
使用条件：送检数量必须足够大，C=0的子组数量要很小
控制用控制图（P图、NP图、C图、U图）判异原则
计量型
Xbar-R控制图（平均值-极差控制图）
使用条件：子组容量n＜9
Xbar-s控制图（平均值-标准差控制图）
使用条件：子组容量n≥9
Xme-R控制图（中位数-极差控制图）
使用条件：子组平均值不能很方便的计算
X-MR控制图（单位-移动极差控制图）
使用条件：性质上是均匀或不能按子组取样（例如：化学液体、批量油漆）
控制用控制图（Xbar图、Xme图、X图）判异原则
控制用控制图（R图、s图、MR图）判异原则
