导图社区 第四章_多晶体分析方法-材料分析技术
适合一般院校课程-材料分析技术-多晶分析方法(X射线衍射仪)的思维导图,将知识点进行了归纳和整理,便于学习者理解和记忆。
适合一般院校材料分析技术课程SEM模块的EDS相关的思维导图,将知识点进行了归纳和整理,便于学习者理解和记忆。(比较一般EP的介绍要简单一些)。
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第四章 多晶体分析方法(X射线衍射仪)
多晶体分析方法概述
样品状态
晶粒足够小(~μm),相邻晶粒取向差较大
分析模型
一个小晶粒4pi立体角均匀旋转
正空间模型
倒空间模型
正、倒空间同向旋转
Eward球分析方法最简洁
实验方法
依据 :
实现种类
劳厄法
周转晶体法
粉末法
德拜法
粉末衍射仪
实验条件
典型实验方法与相关设备
粉末照相法
德拜相机
德拜花样
制样与实验
衍射花样指标化
立方晶系
X射线衍射仪
设备构造
光源
高压设备
循环水箱
开机前就要先运行
测角仪
各种狭缝系统
X射线探测器
主控计算机
其他设备
制样设备及其相关
其他
设备原理
布拉格定律的具体实现
入射光
出射光
样品
光路设置
样品制备
课程实践能力
基本要求:理想不完整晶体近似
初级消光→小颗粒
次级消光→相邻晶粒取向差大
都不存在的样品
粉末样品
研磨
各项异性-织构
均匀性
金属样品
切割
去应力退火
基本实验技能
基本参数
工作模式
连续扫描
步进扫描
衍射花样
特征
数据分析
扣背底
峰位确定
峰强确定
至少掌握三种方法
XRD数据指标化
基本能力
例子:立方晶系
实践能力基本功
其他多晶照相法
同步辐射小角度散射
点阵参数的精确测量
理论依据
误差来源与分析
常用方法
最小二乘法
图解外推法
属于定量分析部分